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微波器件电磁损伤规律研究
| ISBN/价格： | 978-7-03-059112-8:CNY88.00 |
|---|---|
| 作品语种： | chi |
| 出版国别： | CN 110000 |
| 题名责任者项： | 微波器件电磁损伤规律研究/.谭志良[等]著 |
| 出版发行项： | 北京:,科学出版社:,2018.11 |
| 载体形态项： | 210页:;+图:;+24cm |
| 提要文摘： | 本书介绍了几种常用的微波半导体器件的电磁损伤机理。首先介绍了几种微波半导体器件基础知识和典型的电磁脉冲及其效应；然后重点通过仿真分析和实验分析介绍了几种微波半导体器件的电磁损伤机理；最后简要介绍了几种半导体器件电磁损伤模型。 |
| 题名主题： | 微波半导体器件 研究 |
| 中图分类： | TN385 |
| 个人名称等同： | 谭志良 著 |
| 记录来源： | CN 浙江省新华书店集团公司 20181121 |