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数字电路老化预测与容忍
| ISBN/价格： | 978-7-312-04359-8:CNY30.00 |
|---|---|
| 作品语种： | chi |
| 出版国别： | CN 340000 |
| 题名责任者项： | 数字电路老化预测与容忍/.徐辉著 |
| 出版发行项： | 合肥:,中国科学技术大学出版社:,2018.2 |
| 载体形态项： | 123页:;+图:;+24cm |
| 提要文摘： | 本书包括引言; 集成电路老化的相关研究; 低开销的信号违规检测结构; 基于对称或非门的老化预测/检测改进方案; 容忍老化的多米诺门; 低漏电流、抑制NBTI效应的多米诺电路等七章内容。 |
| 并列题名： | Prediction and tolerance on digital circuits aging eng |
| 题名主题： | 数字集成电路 研究 |
| 中图分类： | TN431.2 |
| 个人名称等同： | 徐辉 著 |
| 记录来源： | CN 湖北三新 20180608 |