| ISBN/价格： | 978-7-122-33416-9:CNY88.00 |
|---|
| 作品语种： | chi |
|---|
| 出版国别： | CN 110000 |
|---|
| 题名责任者项： | 纳米材料的X射线分析/.程国峰，杨传铮编著 |
|---|
| 版本项： | 2版 |
|---|
| 出版发行项： | 北京:,化学工业出版社:,2019.6 |
|---|
| 载体形态项： | 351页:;+图:;+24cm |
|---|
| 提要文摘： | 本书是主要介绍利用X射线等激发样品从而表征材料结构，特别是纳米材料晶体结构相关信息的专著。考虑到纳米材料的特殊性，本书分为三个部分：晶体学基础、X射线衍射理论基础、X射线实验装置和方法等四章为基础部分；中间部分是X射线衍射分析方法和应用，包括物相定性和定量、晶体学参数测定、纳米材料微结构的衍射线形分析、Rietveld结构精修和小角散射等；最后介绍了化学组成和原子价态、纳米薄膜和介孔材料等的X射线分析。 |
|---|
| 并列题名： | X-ray analysis of nano materials eng |
|---|
| 题名主题： | 纳米材料 X射线 分析 |
|---|
| 中图分类： | TB383 |
|---|
| 个人名称等同： | 程国峰 编著 |
|---|
| 个人名称等同： | 杨传铮 (侗) 编著 |
|---|
| 记录来源： | CN 浙江省新华书店集团公司 20190531 |
|---|
| 记录来源： | CN OLCC 20191206 |
|---|