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光谱分析技术在GIS绝缘故障诊断中的应用
| ISBN/价格： | 978-7-03-053924-3:CNY78.00 |
|---|---|
| 作品语种： | chi |
| 出版国别： | CN 110000 |
| 题名责任者项： | 光谱分析技术在GIS绝缘故障诊断中的应用/.王先培, 黄云光著 |
| 出版发行项： | 北京:,科学出版社:,2017.6 |
| 载体形态项： | 183页:;+图:;+26cm |
| 提要文摘： | 本书主要内容为GIS内部绝缘故障检测及诊断技术, 分别设计局部放电、过热缺陷模型并搭建模拟故障平台, 以开展两类故障下SF6分解特性对比实验。重点介绍光谱分析技术对SF6分解产物的定性定量检测, 局部放电的故障诊断模型以及故障趋势估计建模, 最终实现光谱分析技术的GIS故障统一预警。 |
| 题名主题： | 光谱分析 应用 地理信息系统 故障诊断 |
| 中图分类： | P208.2 |
| 个人名称等同： | 王先培 著 |
| 个人名称等同： | 黄云光 著 |
| 记录来源： | CN 湖北三新 20191111 |