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涂层薄膜应力及其纳米压痕检测:英文
| ISBN/价格： | 978-7-03-056731-4:CNY120.00 |
|---|---|
| 作品语种： | eng |
| 出版国别： | CN 110000 |
| 题名责任者项： | 涂层薄膜应力及其纳米压痕检测/.Haidou Wang, Lina Zhu, Binshi Xu |
| 出版发行项： | 北京:,科学出版社:,2019.1 |
| 载体形态项： | 207页:;+图:;+25cm |
| 一般附注： | Springer |
| 提要文摘： | 本书重点介绍了先进的纳米压痕测量技术, 深入阐述了不同计算模型的测量原理、适用范围及缺陷, 并系统总结了不同模型在残余应力测量中的实际应用。所取材料主要是来自作者近年来的最新研究成果以及该领域同行学者的重要研究内容。 |
| 并列题名： | Residual stresses and nanoindentation testing of films and coatings eng |
| 题名主题： | 薄膜应力 纳米技术 压痕 检测 英文 |
| 中图分类： | O343 |
| 个人名称等同： | 王海斗 著 |
| 个人名称等同： | 朱丽娜 著 |
| 个人名称等同： | 徐滨士 著 |
| 记录来源： | CN 湖北三新 20191031 |
| 记录来源： | CN TSG 20200113 |