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《晶体生长中输运现象及晶体缺陷》

晶体生长中输运现象及晶体缺陷

ISBN/价格:978-7-03-061162-8:CNY168.00
作品语种:chi
出版国别:CN 110000
题名责任者项:晶体生长中输运现象及晶体缺陷/.方海生,刘胜著
出版发行项:北京:,科学出版社:,2019.6
载体形态项:12,351页:;+图,照片:;+24cm
提要文摘:本书首先阐述晶体生长的基本原理和输运现象,并介绍计算流体力学方法;其次着重讨论薄膜制备中传热和传质现象,包括薄膜制备系统的复杂化学反应机理,并介绍与传热和传质相关的晶体缺陷;然后,以多晶硅、蓝宝石、氮化镓等应用广泛的晶体为例,讨论块状晶体、薄膜晶体制备过程的研究方法和优化策略;最后,书中进一步讨论从分子动力学角度理解开裂、位错等晶体缺陷形成的机理,以及采用第一性原理辅助的分子动力学方法预测热物性参数的理论。
并列题名:Transport phenomena during crystal growth and crystal defects eng
题名主题:晶体生长 输运过程
题名主题:晶体缺陷
中图分类:O78
中图分类:O77
个人名称等同:方海生 著
个人名称等同:刘胜 著
记录来源:CN 浙江省新华书店集团公司 20190702
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