| ISBN/价格： | 978-7-04-052413-0:CNY129.00 |
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| 作品语种： | chi eng |
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| 出版国别： | CN 110000 |
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| 题名责任者项： | 透射电子显微学/.David B. Williams，C. Barry Carter著/.李建奇等译 |
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| 出版发行项： | 北京:,高等教育出版社:,2019.11 |
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| 载体形态项： | 649页:;+图:;+24cm |
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| 一般附注： | 材料科学经典著作选译 |
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| 提要文摘： | 本书为透射电子显微学下册，内容包括第三章及第四章，第3篇主要介绍成像的基本原理和各种成像类型、不同的成像技术，以及对实验图像的处理、分析和理论模拟；第4篇主要介绍X射线能谱和电子能量损失谱的基本原理和应用，以及与之相关的各种实验技术。 |
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| 并列题名： | Transmission electron microscopy eng |
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| 题名主题： | 透射电子显微术 |
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| 中图分类： | TN16 |
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| 中图分类： | O766 |
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| 个人名称等同： | 威廉斯 David B. (Williams, David B.) 著 |
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| 个人名称等同： | 卡特 C. Barry (Carter, C. Barry) 著 |
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| 个人名称次要： | 李建奇 译 |
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| 记录来源： | CN 浙江省新华书店集团公司 20191216 |
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