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互换性与技术测量基础
| ISBN/价格： | 978-7-5680-5976-3:CNY38.00 |
|---|---|
| 作品语种： | chi |
| 出版国别： | CN 420000 |
| 题名责任者项： | 互换性与技术测量基础/.王莉静，郝龙，吴金文主编 |
| 出版发行项： | 武汉:,华中科技大学出版社:,2020.1 |
| 载体形态项： | 229页:;+图:;+26cm |
| 一般附注： | 普通高等教育“十三五”规划教材暨智能制造领域人才培养规划教材 |
| 提要文摘： | 本书介绍了“互换性与技术测量”课程的主要内容，分析了我国公差与配合方面的最新标准，阐述了技术测量的基本原理。全书主要内容包括：测量技术基础、尺寸极限与配合、几何公差、表面粗糙度及其评定、光滑工件尺寸的检验和光滑极限量规的设计、常用典型件的互换性、渐开线圆柱齿轮公差与检测、尺寸链等。 |
| 题名主题： | 零部件 互换性 高等教育 教材 |
| 题名主题： | 零部件 技术测量 高等教育 教材 |
| 中图分类： | TG801 |
| 个人名称等同： | 王莉静 主编 |
| 个人名称等同： | 郝龙 主编 |
| 个人名称等同： | 吴金文 主编 |
| 记录来源： | CN 浙江省新华书店集团公司 20200521 |