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《用于集成电路仿真和设计的FinFET建模:基于BSIM-CMG标准》

用于集成电路仿真和设计的FinFET建模:基于BSIM-CMG标准

ISBN/价格:978-7-111-65981-5:CNY99.00
作品语种:chi inc
出版国别:CN 110000
题名责任者项:用于集成电路仿真和设计的FinFET建模/.(印)尤盖希·辛格·楚罕 (Yogesh Singh Chauhan)[等]著/.陈铖颖,张宏怡,荆有波译
出版发行项:北京:,机械工业出版社:,2020.09
载体形态项:239页:;+图:;+24cm
丛编项:微电子与集成电路先进技术丛书
相关题名附注:封面英文题名:FinFET modeling for IC simulation and design: using the BSIM-CMG standard
提要文摘:本书从三维结构的原理、物理效应入手,详细讨论了FinFET紧凑模型(BSIM-CMG)产生的背景、原理、参数以及实现方法;同时讨论了在模拟和射频集成电路设计中所采用的仿真模型。本书避开了繁杂的公式推导,而进行了更为直接的机理分析,力求使得读者从工艺、器件层面理解BSIM-CMG的特点和使用方法。
并列题名:Using the BSIM-CMG standard eng
题名主题:集成电路 电路设计 系统建模
中图分类:TN402
个人名称等同:楚罕 尤盖希·辛格 (印) 著
个人名称次要:陈铖颖 译
个人名称次要:张宏怡 译
个人名称次要:荆有波 译
记录来源:CN 人天书店 20201016
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