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光子计数成像技术
| ISBN/价格： | 978-7-03-066463-1:CNY80.00 |
|---|---|
| 作品语种： | chi |
| 出版国别： | CN 110000 |
| 题名责任者项： | 光子计数成像技术/.尹丽菊，高明亮，潘金凤著 |
| 出版发行项： | 北京:,科学出版社:,2020.10 |
| 载体形态项： | 111页:;+图:;+24cm |
| 提要文摘： | 本书全面、系统地阐述了光子计数成像技术的基本理论、方法及其应用。全书共分为五章，主要包括：微光成像技术发展及国内外研究现状、理论分析盖革雪崩光电二极管(Avalanche Photodiode in Geiger Mode，GM-APD)的电气特性和光学特性，GM-APD的等效电路和探测电路模型，Si GM-APD和InGaAs GM-APD在不同天气情况不同波段下的光电子数分布，蒙特卡洛方法建立光子计数成像模型，光子计数成像实验平台的搭建、成像实验和图像处理算法研究。 |
| 题名主题： | 光子 成象系统 |
| 中图分类： | TN941.1 |
| 个人名称等同： | 尹丽菊 著 |
| 个人名称等同： | 高明亮 著 |
| 个人名称等同： | 潘金凤 著 |
| 记录来源： | CN 人天书店 20201110 |