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材料发射率测量技术与应用
| ISBN/价格： | 978-7-5024-8680-8:CNY66.00 |
|---|---|
| 作品语种： | chi |
| 出版国别： | CN 110000 |
| 题名责任者项： | 材料发射率测量技术与应用/.张宇峰[等]编著 |
| 出版发行项： | 北京:,冶金工业出版社:,2021.01 |
| 载体形态项： | 166页:;+图:;+24cm |
| 提要文摘： | 本书通过对发射率的基础介绍，通过原理、试验、数据等方方面面介绍了主流发射率的测量方法和测量设备的介绍。通过红外辐射的知识，从辐射的单位和辐射的度量为出发点，详细结合原理推导和各大辐射理论得出基本公式和原理。然后从市场和国防的需求面展开对发射率的研究，结合国内外主流的四种测试表征方法：量热法、能量法、反射法、多光谱法深入探究讨论。再然后介绍了发射率建模的机理以及各种建模的方法以及完整的发射率测量系统中各大部件之间的关系和要求。最后详细介绍了高中低温相关测试设备和手段，以及最近研发的相关设备。 |
| 题名主题： | 发射率 应用 工程材料 检测 |
| 中图分类： | TB303 |
| 个人名称等同： | 张宇峰 编著 |
| 记录来源： | CN 人天书店 20210407 |