ISBN/价格: | 978-7-306-06689-3:CNY200.00 |
作品语种: | chi eng |
出版国别: | CN 440000 |
题名责任者项: | 表面分析技术/.(英)约翰·C.维克曼(John C. Vickerman),(英)伊恩·S.吉尔摩(Ian S. Gilmore)编/.陈建[等]译 |
出版发行项: | 广州:,中山大学出版社:,2020.12 |
载体形态项: | 530页:;+彩图,彩照,肖像:;+26cm |
提要文摘: | 本书介绍表面分析主要技术,包括俄歇电子能谱、X射线光电子能谱、二次离子质谱、低能粒子散射和卢瑟福背散射技术、表面分子振动光谱技术以及扩展X射线吸收精细结构和扫描隧道显微技术、原子力显微技术等。本书主要阐述上述表面分析技术的基本原理和实用样品实例分析,每章结尾处还附有相关的分析练习题供读者训练,判断自己对书中知识内容掌握的程度。 |
并列题名: | Surface analysis: the principal techniques eng |
题名主题: | 表面分析 |
中图分类: | O652 |
个人名称等同: | 维克曼 约翰·C. (英) 编 |
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个人名称等同: | 吉尔摩 伊恩·S. (英) 编 |
个人名称次要: | 陈建 译 |
记录来源: | CN 人天书店 20210108 |