| ISBN/价格： | 978-7-306-06689-3:CNY200.00 |
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| 作品语种： | chi eng |
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| 出版国别： | CN 440000 |
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| 题名责任者项： | 表面分析技术/.(英)约翰·C.维克曼(John C. Vickerman)，(英)伊恩·S.吉尔摩(Ian S. Gilmore)编/.陈建[等]译 |
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| 出版发行项： | 广州:,中山大学出版社:,2020.12 |
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| 载体形态项： | 530页:;+彩图，彩照，肖像:;+26cm |
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| 提要文摘： | 本书介绍表面分析主要技术，包括俄歇电子能谱、X射线光电子能谱、二次离子质谱、低能粒子散射和卢瑟福背散射技术、表面分子振动光谱技术以及扩展X射线吸收精细结构和扫描隧道显微技术、原子力显微技术等。本书主要阐述上述表面分析技术的基本原理和实用样品实例分析，每章结尾处还附有相关的分析练习题供读者训练，判断自己对书中知识内容掌握的程度。 |
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| 并列题名： | Surface analysis: the principal techniques eng |
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| 题名主题： | 表面分析 |
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| 中图分类： | O652 |
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| 个人名称等同： | 维克曼 约翰·C. (英) 编 |
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| 个人名称等同： | 吉尔摩 伊恩·S. (英) 编 |
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| 个人名称次要： | 陈建 译 |
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| 记录来源： | CN 人天书店 20210108 |
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