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X射线衍射理论与实践.Ⅱ
| ISBN/价格： | 978-7-122-38012-8:CNY46.00 |
|---|---|
| 作品语种： | chi |
| 出版国别： | CN 110000 |
| 题名责任者项： | X射线衍射理论与实践/.黄继武，李周等编著 |
| 出版发行项： | 北京:,化学工业出版社:,2021.07 |
| 载体形态项： | 182页:;+图:;+26cm |
| 一般附注： | 教育部高等学校材料类专业教学指导委员会规划教材 |
| 提要文摘： | 本书包括X射线衍射分析的3个专题应用和Rietveld全谱拟合精修方法。专题应用包括：宏观内应力的测量(第1章)、织构的测定与分析(第2章)和非晶态物质的X射线衍射分析(第6章)。每个专题应用都包括4个环节：从基础理论开始，导出实验原理和实验方法，最后结合科研需要，通过应用实例讲解，进行操作技能培训，并且通过课堂讨论问题、思考计算和实践操练对相关专题进行总结、归纳和技能提升。针对Rietveld全谱拟合精修方法，第3章详细阐述了Rietveld方法的基本原理和数学基础；第4章和第5章以Jade和Maud两种智能化精修软件为工具，提出了Rietveld方法在多晶材料中的各种具体应用方法。 |
| 并列题名： | Theory and practice of X-ray diffraction eng |
| 题名主题： | X射线衍射 高等学校 教材 |
| 中图分类： | O434.1 |
| 个人名称等同： | 黄继武 编著 |
| 个人名称等同： | 李周 编著 |
| 记录来源： | CN 人天书店 20210907 |