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短波红外InGaAs探测器辐照特性研究
| ISBN/价格： | 978-7-5676-4607-0:CNY23.50 |
|---|---|
| 作品语种： | chi |
| 出版国别： | CN 340000 |
| 题名责任者项： | 短波红外InGaAs探测器辐照特性研究/.黄星著 |
| 出版发行项： | 芜湖:,安徽师范大学出版社:,2020.12 |
| 载体形态项： | 106页:;+图:;+24cm |
| 提要文摘： | 本书围绕短波红外InGaAs探测器的航天遥感应用，采用微波反射法提取了InGaAs吸收层的少子寿命，研究了不同钝化方法的短波红外InGaAs探测器的低频噪声，并利用g-r噪声的温度特性提取了PECVD钝化器件的缺陷能级，为短波红外InGaAs探测器在太空质子、电子和γ射线等辐照下正常工作提供保障。 |
| 题名主题： | 红外探测器 辐射 研究 |
| 中图分类： | TN215 |
| 个人名称等同： | 黄星 著 |
| 记录来源： | CN 人天书店 20210422 |