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光电材料表征技术
| ISBN/价格： | 978-7-308-21953-2:CNY78.00 |
|---|---|
| 作品语种： | chi |
| 出版国别： | CN 330000 |
| 题名责任者项： | 光电材料表征技术/.季振国等著 |
| 出版发行项： | 杭州:,浙江大学出版社:,2022.01 |
| 载体形态项： | 231页:;+图:;+25cm |
| 相关题名附注： | 封面英文题名：Characterization technologies for optoelectronic materials |
| 提要文摘： | 本书主要介绍光电材料涉及的表征技术，并以大量实例辅助说明。全书分为元素成分分析、元素价态分析、晶体结构分析、表面形貌分析、薄膜厚度测量、光学性能测量、电学性能测量等部分。本书从材料研究人员角度出发介绍材料表征技术，重在介绍各种技术在材料领域的应用，以用为主，具有较强的科学性和实用性。 |
| 并列题名： | Characterization technologies for optoelectronic materials eng |
| 题名主题： | 光电材料 研究 |
| 中图分类： | TN204 |
| 个人名称等同： | 季振国 著 |
| 记录来源： | CN 人天书店 20220323 |