| ISBN/价格： | 978-7-302-59040-8:CNY178.00 |
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| 作品语种： | chi |
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| 出版国别： | CN 110000 |
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| 题名责任者项： | 高速数字接口与光电测试/.李凯著 |
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| 出版发行项： | 北京:,清华大学出版社:,2022.01 |
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| 载体形态项： | 425页:;+图:;+26cm |
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| 相关题名附注： | 封面英文题名：High speed digital interface and photoelectric test |
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| 提要文摘： | 本书结合笔者多年从业经验，从产业技术发展的角度对高速数字信号与光电互联的基本概念、关键技术进行生动讲解，同时结合现代计算机、移动终端、AI计算、数据中心、电信网络中最新的接口技术，对其标准演变、测试方法等做了详细介绍，以便于读者理解和掌握高速数字与光电互联的基本原理、实现技术、测试理念及其发展趋势。 |
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| 并列题名： | High speed digital interface and photoelectric test eng |
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| 题名主题： | 数字接口 接口技术 |
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| 题名主题： | 光电检测 测试技术 |
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| 中图分类： | TN919.5 |
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| 中图分类： | TN206 |
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| 个人名称等同： | 李凯 著 |
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| 记录来源： | CN 人天书店 20220124 |
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