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阻变存储器中离子扩散动力学研究
| ISBN/价格： | 978-7-5509-3162-6:CNY48.00 |
|---|---|
| 作品语种： | chi |
| 出版国别： | CN 410000 |
| 题名责任者项： | 阻变存储器中离子扩散动力学研究/.武兴会著 |
| 出版发行项： | 郑州:,黄河水利出版社:,2021.11 |
| 载体形态项： | 106页:;+图:;+21cm |
| 提要文摘： | 本书围绕阻变存储器中的氧离子扩散动力学展开研究，以阻变存储器常用介质层Ta205为主要研究对象，采用密度泛函理论的第一性原理计算与实验研制相结合的方法，研究氧原子扩散势垒对氧空位导电通道的调控机制，分别用理论计算和实验探索Ta205中子半径、离子电负性、氧空位之间相互作用对原子扩散势垒的调控规律。基于此规律，实验制备相应RRAM器件，研究调控手段影响下的器件操作电压、阻态稳定性参数，获取掺杂离子半径、离子电负性、氧空位之间相互作用-扩散势垒-操作电压、阻态稳定性之间的关系，进一步得到原子扩散势垒一导电通道的关系，明确扩散势垒对器件导电通道调控机制。 |
| 题名主题： | 存贮器 原子扩散 动力学 研究 |
| 中图分类： | TP333 |
| 个人名称等同： | 武兴会 著 |
| 记录来源： | CN 人天书店 20220727 |
| 记录来源： | CN TSG 20230607 |