| ISBN/价格： | 978-7-5635-6671-6:CNY58.00 |
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| 作品语种： | chi |
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| 出版国别： | CN 110000 |
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| 题名责任者项： | 电子元器件声学扫描检查方法/.张魁[等]主编 |
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| 出版发行项： | 北京:,北京邮电大学出版社:,2022.07 |
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| 载体形态项： | 10,213页:;+图:;+26cm |
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| 丛编项： | 信息科学技术专著丛书 |
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| 相关题名附注： | 封面英文题名：Scanning acoustic microscope for electroniccomponents |
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| 提要文摘： | 本书系统地介绍了从原理、操作到应用等声学扫描检测技术所涉及的各方面内容，包括试验原理、操作指南、应用案例、试验技巧和塑封器件5篇。第1篇试验原理介绍了超声波的检测原理和声学扫描显微镜的工作原理，是声扫试验的重要基础。第2篇操作指南介绍了与试验操作相关的流程、设备和标准等，主要用于指导声扫试验人员实践操作。第3篇应用案例介绍了常见半导体器件的检测关键因素和声扫试验的典型应用案例，熟悉这些案例对于快速提升试验人员的操作经验具有较大帮助。第4篇试验技巧介绍了声扫试验过程中涉及的方法技巧、误判分析和异常分析等，掌握这些试验技巧能够显著提升试验人员的技术水平。第5篇塑封器件系统地介绍了塑封器件的结构、工艺和失效情况分析，是声扫试验的延伸补充。 |
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| 并列题名： | Scanning acoustic microscope for electroniccomponents eng |
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| 题名主题： | 电子元器件 声学检验 |
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| 中图分类： | TN6 |
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| 个人名称等同： | 张魁 主编 |
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| 记录来源： | CN 人天书店 20220826 |
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