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FPGA芯片设计与测试技术研究
| ISBN/价格： | 978-7-5672-3899-2:CNY59.00 |
|---|---|
| 作品语种： | chi |
| 出版国别： | CN 320000 |
| 题名责任者项： | FPGA芯片设计与测试技术研究/.张惠国，顾涵著 |
| 出版发行项： | 苏州:,苏州大学出版社:,2022.02 |
| 载体形态项： | 196页:;+图:;+24cm |
| 提要文摘： | 本书围绕基于SRAM的FPGA，基于岛状的架构，对FPGA的各个模块进行了详细的分析和设计，并设计了可扩展的FPGA配置电路以及可靠全局信号网络，同时对FPGA进行了抗辐照改进设计研究。本书详细解析了FPGA内部的逻辑、布线、配置、接口、可靠性设计、测试等方面的知识，涉及了FPGA芯片涉及的多个方面，可为从事FPGA芯片设计人员和FPGA应用工程师提供了芯片内部的设计知识，提升对FPGA器件的设计和应用能力。 |
| 并列题名： | Research on FPGA chip design and test technology eng |
| 题名主题： | 可编程序逻辑阵列 研究 |
| 中图分类： | TP332.1 |
| 个人名称等同： | 张惠国 著 |
| 个人名称等同： | 顾涵 著 |
| 记录来源： | CN 人天书店 20220524 |