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嵌入式处理器片上追踪调试技术
| ISBN/价格： | 978-7-5673-0580-9:CNY49.00 |
|---|---|
| 作品语种： | chi |
| 出版国别： | CN 430000 |
| 题名责任者项： | 嵌入式处理器片上追踪调试技术/.扈啸，王耀华，阮喻著 |
| 出版发行项： | 长沙:,国防科技大学出版社:,2021.07 |
| 载体形态项： | 199页:;+图:;+24cm |
| 提要文摘： | 本书针对嵌入式多核处理器的片上trace调试关键技术展开研究，对嵌入式处理器的调试模型和片上trace的实现模型、trace信息采集压缩技术、trace数据流的片上传输技术、片上trace的应用技术以及程序控制流错误检测技术，都进行了深入论述和研究。第1章和第2章介绍了本书的研究背景和主要内容，并从行业标准、业界产品、仿真器和学术研究四个方面详细介绍了片上调试的技术现状等。 |
| 并列题名： | On-chip trace debug for embedded processor eng |
| 题名主题： | 微处理器 调式方法 |
| 中图分类： | TP332 |
| 个人名称等同： | 扈啸 著 |
| 个人名称等同： | 王耀华 著 |
| 个人名称等同： | 阮喻 著 |
| 记录来源： | CN 人天书店 20211117 |