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材料电子及中子分析技术
| ISBN/价格： | 978-7-121-44710-5:CNY69.00 |
|---|---|
| 作品语种： | chi |
| 出版国别： | CN 110000 |
| 题名责任者项： | 材料电子及中子分析技术/.朱和国，黄鸣主编 |
| 出版发行项： | 北京:,电子工业出版社:,2022.12 |
| 载体形态项： | 350页:;+图，照片:;+26cm |
| 一般附注： | 华信 |
| 提要文摘： | 本书首先介绍晶体学基础、电子衍射的物理基础、衍射成像、衬度理论、高分辨成像、复杂电子衍射花样、原位透射电子显微分析技术、透射电子显微镜、扫描电镜、扫描透射电镜、电子探针、电子背散射衍射的原理与应用；然后介绍了用于表面分析的俄歇电子能谱、X射线光电子能谱、扫描隧道显微镜、低能电子衍射、反射高能电子衍射及电子能量损失谱等的原理、特点及其应用；最后介绍了原子探针和中子分析技术等。 |
| 题名主题： | 材料 电子 |
| 题名主题： | 材料 中子 |
| 中图分类： | TB3 |
| 个人名称等同： | 朱和国 主编 |
| 个人名称等同： | 黄鸣 主编 |
| 记录来源： | CN 浙江省新华书店集团公司 20230210 |