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集成电路测试技术
| ISBN/价格： | 978-7-121-44351-0:CNY128.00 |
|---|---|
| 作品语种： | chi |
| 出版国别： | CN 110000 |
| 题名责任者项： | 集成电路测试技术/.武乾文主编 |
| 出版发行项： | 北京:,电子工业出版社:,2022.10 |
| 载体形态项： | 17,329页:;+图，照片:;+24cm |
| 丛编项： | 集成电路系列丛书.集成电路封装测试 |
| 一般附注： | 工信学术出版基金 集成电路产业知识赋能工程 |
| 相关题名附注： | 封面英文题名：Integrated circuit testing technology |
| 提要文摘： | 本书共分10章，内容包括：集成电路测试概述、数字集成电路测试技术、模拟集成电路测试技术、数模混合集成电路测试技术、射频电路测试技术、SoC及其他典型电路测试技术、集成电路设计与测试的链接技术、测试接口板设计技术、集成电路测试设备、智能测试。 |
| 并列题名： | Integrated circuit testing technology eng |
| 题名主题： | 集成电路 电路测试 |
| 中图分类： | TN407 |
| 个人名称等同： | 武乾文 主编 |
| 记录来源： | CN 浙江省新华书店集团公司 20221109 |