ISBN/价格: | 978-7-121-44351-0:CNY128.00 |
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作品语种: | chi |
出版国别: | CN 110000 |
题名责任者项: | 集成电路测试技术/.武乾文主编 |
出版发行项: | 北京:,电子工业出版社:,2022.10 |
载体形态项: | 17,329页:;+图,照片:;+24cm |
丛编项: | 集成电路系列丛书.集成电路封装测试 |
一般附注: | 工信学术出版基金 集成电路产业知识赋能工程 |
相关题名附注: | 封面英文题名:Integrated circuit testing technology |
提要文摘: | 本书共分10章,内容包括:集成电路测试概述、数字集成电路测试技术、模拟集成电路测试技术、数模混合集成电路测试技术、射频电路测试技术、SoC及其他典型电路测试技术、集成电路设计与测试的链接技术、测试接口板设计技术、集成电路测试设备、智能测试。 |
并列题名: | Integrated circuit testing technology eng |
题名主题: | 集成电路 电路测试 |
中图分类: | TN407 |
个人名称等同: | 武乾文 主编 |
记录来源: | CN 浙江省新华书店集团公司 20221109 |