| ISBN/价格： | 978-7-5767-0540-9:CNY128.00 |
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| 作品语种： | chi |
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| 出版国别： | CN 230000 |
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| 题名责任者项： | 电子学系统辐射效应与加固技术/.许献国，曾超著 |
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| 出版发行项： | 哈尔滨:,哈尔滨工业大学出版社:,2023.05 |
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| 载体形态项： | 390页:;+图:;+24cm |
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| 丛编项： | 材料与器件辐射效应及加固技术研究著作 |
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| 一般附注： | 国家出版基金项目 国家出版基金资助项目 |
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| 提要文摘： | 本书介绍辐射对电子学系统的损伤机制、研究方法和加固技术。第1-3章介绍辐射环境、辐射与物质的相互作用，以及电子元器件的辐射效应；第4-6章介绍多物理响应与多物理场作用、辐射效应的试验与测试，以及辐射环境与辐射效应的计算与仿真；第7章和第8章介绍电子学系统抗辐射加固技术与抗辐射性能评估。附录提供了常用的辐射效应数据以便查询。 |
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| 并列题名： | Radiation effects and hardening techniques of electronic systems eng |
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| 题名主题： | 电子器件 辐射效应 研究 |
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| 题名主题： | 电子器件 辐射防护 研究 |
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| 中图分类： | TN6 |
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| 个人名称等同： | 许献国 著 |
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| 个人名称等同： | 曾超 著 |
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| 记录来源： | CN 浙江省新华书店集团公司 20230829 |
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