ISBN/价格: | 978-7-5767-0540-9:CNY128.00 |
作品语种: | chi |
出版国别: | CN 230000 |
题名责任者项: | 电子学系统辐射效应与加固技术/.许献国,曾超著 |
出版发行项: | 哈尔滨:,哈尔滨工业大学出版社:,2023.05 |
载体形态项: | 390页:;+图:;+24cm |
丛编项: | 材料与器件辐射效应及加固技术研究著作 |
一般附注: | 国家出版基金项目 国家出版基金资助项目 |
提要文摘: | 本书介绍辐射对电子学系统的损伤机制、研究方法和加固技术。第1-3章介绍辐射环境、辐射与物质的相互作用,以及电子元器件的辐射效应;第4-6章介绍多物理响应与多物理场作用、辐射效应的试验与测试,以及辐射环境与辐射效应的计算与仿真;第7章和第8章介绍电子学系统抗辐射加固技术与抗辐射性能评估。附录提供了常用的辐射效应数据以便查询。 |
并列题名: | Radiation effects and hardening techniques of electronic systems eng |
题名主题: | 电子器件 辐射效应 研究 |
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题名主题: | 电子器件 辐射防护 研究 |
中图分类: | TN6 |
个人名称等同: | 许献国 著 |
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个人名称等同: | 曾超 著 |
记录来源: | CN 浙江省新华书店集团公司 20230829 |