ISBN/价格: | 978-7-03-075930-6:CNY79.00 |
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作品语种: | chi |
出版国别: | CN 110000 |
题名责任者项: | 材料X射线分析技术/.朱和国等编著 |
出版发行项: | 北京:,科学出版社:,2023.09 |
载体形态项: | 292页:;+26cm |
一般附注: | 工业和信息化部“十四五”规划教材 |
提要文摘: | 本书为工业和信息化部“十四五”规划教材,主要介绍晶体学基础与X射线在材料结构、形貌和成分等方面的分析技术。其中结构分析技术包括X射线的物理基础、衍射原理、物相分析、非晶分析、织构分析、小角散射与掠入射分析、层错分析、位错分析、单晶体衍射与取向分析、内应力分析、点阵参数的精确测量和热处理分析等;形貌分析技术即为三维x射线显微成像分析;成分分析技术包括特征x射线能谱、x射线光电子能谱及荧光x射线谱等。书中研究和测试的材料主要包括金属材料、无机非金属材料、高分子材料、非晶态材料、金属间化合物、复合材料等。对每章 |
题名主题: | 晶体 X射线衍射分析 教材 |
中图分类: | O7 |
记录来源: | CN 20231017 |
记录来源: | CN TSG 20231205 |