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LabVIEW与天线测量技术
| ISBN/价格： | 978-7-5606-6841-3:CNY49.00 |
|---|---|
| 作品语种： | chi |
| 出版国别： | CN 610000 |
| 题名责任者项： | LabVIEW与天线测量技术/.马玉丰[等]编著 |
| 出版发行项： | 西安:,西安电子科技大学出版社:,2023.06 |
| 载体形态项： | 256页:;+图:;+26cm |
| 丛编项： | 天线测试技术丛书 |
| 提要文摘： | 本书共15章，分为三篇。第1章至第10章为基础篇，介绍了LabVIEW的基础知识，包括认识LabVIEW，启动界面、前面板与菜单，数据格式，循环与事件结构，文件I/O，画图与显示，MAX与仪器驱动、接口，VI显示设置与美化，程序代码的保护，生成可执行与安装程序。第11章、第12章为提高篇，给出了天线测试系统采集软件与分析软件的源代码详细解析。第13章至第15章为高级篇，介绍了天线测试系统集成相关知识。 |
| 题名主题： | 软件工具 程序设计 |
| 题名主题： | 微波天线 测量技术 |
| 非控主题词： | LabVIEW |
| 中图分类： | TP311.561 |
| 中图分类： | TN822 |
| 个人名称等同： | 马玉丰 编著 |
| 记录来源： | CN 浙江省新华书店集团公司 20230712 |