ISBN/价格: | 978-7-5767-0541-6:CNY98.00 |
作品语种: | chi |
出版国别: | CN 230000 |
题名责任者项: | 宇航MOSFET器件单粒子辐射加固技术与实践/.付晓君[等]编著 |
出版发行项: | 哈尔滨:,哈尔滨工业大学出版社:,2023.05 |
载体形态项: | 250页:;+图:;+24cm |
一般附注: | 材料与器件辐射效应及加固技术研究著作 国家出版基金项目 国家出版基金资助项目 |
提要文摘: | 本书介绍宇航MOSFET器件的单粒子效应机理和加固技术。全书共6章,内容包括空间辐射环境与基本辐射效应、宇航M0SFET器件的空间辐射效应及损伤模型、宇航M0SFET器件抗单粒子辐射加固技术、宇航M0SFET器件测试技术与辐照试验,并以一款宇航DM0S器件为实例,详述了抗单粒子加固样品的结构设计和制造工艺细节,最后介绍宇航MOSFET器件的应用及发展趋势。 |
并列题名: | Single event effect hardening technique and practice on aerospace power MOSFETs eng |
题名主题: | 功率MOSFET 辐射防护 研究 |
中图分类: | TN323 |
个人名称等同: | 付晓君 编著 |
记录来源: | CN 浙江省新华书店集团公司 20230829 |