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《宇航MOSFET器件单粒子辐射加固技术与实践》

宇航MOSFET器件单粒子辐射加固技术与实践

ISBN/价格:978-7-5767-0541-6:CNY98.00
作品语种:chi
出版国别:CN 230000
题名责任者项:宇航MOSFET器件单粒子辐射加固技术与实践/.付晓君[等]编著
出版发行项:哈尔滨:,哈尔滨工业大学出版社:,2023.05
载体形态项:250页:;+图:;+24cm
一般附注:材料与器件辐射效应及加固技术研究著作 国家出版基金项目 国家出版基金资助项目
提要文摘:本书介绍宇航MOSFET器件的单粒子效应机理和加固技术。全书共6章,内容包括空间辐射环境与基本辐射效应、宇航M0SFET器件的空间辐射效应及损伤模型、宇航M0SFET器件抗单粒子辐射加固技术、宇航M0SFET器件测试技术与辐照试验,并以一款宇航DM0S器件为实例,详述了抗单粒子加固样品的结构设计和制造工艺细节,最后介绍宇航MOSFET器件的应用及发展趋势。
并列题名:Single event effect hardening technique and practice on aerospace power MOSFETs eng
题名主题:功率MOSFET 辐射防护 研究
中图分类:TN323
个人名称等同:付晓君 编著
记录来源:CN 浙江省新华书店集团公司 20230829
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