ISBN/价格: | 978-7-121-43802-8:CNY100.00 |
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作品语种: | chi |
出版国别: | CN 110000 |
题名责任者项: | 集成电路测试基础/.谷颜秋主编/.佛山市联动科技股份有限公司编著 |
出版发行项: | 北京:,电子工业出版社:,2022.07 |
载体形态项: | 10,320页:;+图,照片:;+26cm |
丛编项: | 集成电路产业知识赋能工程系列丛书 |
提要文摘: | 本书共分为15章,内容包括实际的导线、电阻、电容、电感元件在测试电路中的影响,自动测试设备(ATE)V/I源的基本原理和实际应用限制,模拟和数字集成电路测试原理和方法,测试数据分析的方法,以及测试电路相关的信号完整性方面的介绍,并结合测试开发的实际案例讲解了集成电路测试项目开发流程。 |
题名主题: | 集成电路 电路测试 |
中图分类: | TN407 |
个人名称等同: | 谷颜秋 主编 |
记录来源: | CN 浙江省新华书店集团公司 20220728 |