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集成电路测试基础
| ISBN/价格： | 978-7-121-43802-8:CNY100.00 |
|---|---|
| 作品语种： | chi |
| 出版国别： | CN 110000 |
| 题名责任者项： | 集成电路测试基础/.谷颜秋主编/.佛山市联动科技股份有限公司编著 |
| 出版发行项： | 北京:,电子工业出版社:,2022.07 |
| 载体形态项： | 10,320页:;+图，照片:;+26cm |
| 丛编项： | 集成电路产业知识赋能工程系列丛书 |
| 提要文摘： | 本书共分为15章，内容包括实际的导线、电阻、电容、电感元件在测试电路中的影响，自动测试设备(ATE)V/I源的基本原理和实际应用限制，模拟和数字集成电路测试原理和方法，测试数据分析的方法，以及测试电路相关的信号完整性方面的介绍，并结合测试开发的实际案例讲解了集成电路测试项目开发流程。 |
| 题名主题： | 集成电路 电路测试 |
| 中图分类： | TN407 |
| 个人名称等同： | 谷颜秋 主编 |
| 记录来源： | CN 浙江省新华书店集团公司 20220728 |