| ISBN/价格： | 978-7-5160-4060-7:CNY39.80 |
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| 作品语种： | chi |
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| 出版国别： | CN 110000 |
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| 题名责任者项： | X射线多晶衍射数据Rietveld精修及GSAS软件入门/.郑振环, 陈玉龙编著 |
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| 出版发行项： | 北京:,中国建材工业出版社:,2024.03 |
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| 载体形态项： | 134页:;+图:;+24cm |
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| 相关题名附注： | 英文并列题名取自封面 |
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| 提要文摘： | 本书共为四章，侧重从操作示例来介绍Rietveld法的原理和精修基本过程。第一章介绍Rietveld法结构精修的发展概况和基本原理。第二章介绍EXPGUI-CSAS软件安装和界面。第三章简介Rietveld法X射线多晶衍射数据的实验技术，以例子演示EXPGUI-GSAS软件Rietveld精修的基本过程、精修结果的提取以及图谱的绘图，并给出了空间群设定问题的解决、精修角度范围设定和定制EX-PGUI等内容。第四章给出了五个提高练习示例，包括仪器参数文件的建立、含非晶混合物的定量分析、Le Bail法拟合及占位修正、峰形参数计算晶粒尺寸和微观应变以及批量精修等。 |
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| 并列题名： | Introduction to rietveld refinement with X-ray powder diffraction data and GASA software eng |
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| 题名主题： | 多晶 X射线衍射 研究 |
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| 中图分类： | O721 |
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| 个人名称等同： | 郑振环 编著 |
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| 个人名称等同： | 陈玉龙 编著 |
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| 记录来源： | CN 浙江省新华书店集团公司 20240729 |
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