| ISBN/价格： | 978-7-302-66203-7:CNY79.00 |
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| 作品语种： | chi |
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| 出版国别： | CN 110000 |
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| 题名责任者项： | 数字集成电路测试/.李华伟 ... [等] 编著 |
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| 出版发行项： | 北京:,清华大学出版社:,2024.06 |
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| 载体形态项： | x, 258页:;+图:;+24cm |
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| 丛编项： | 集成电路科学与技术丛书 |
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| 一般附注： | 水木书荟 |
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| 相关题名附注： | 英文并列题名取自封面 |
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| 提要文摘： | 本书介绍数字集成电路测试的基础理论、方法与EDA实践。第1章为数字集成电路测试技术导论，第2至9章依次介绍故障模拟、测试生成、可测试性设计、逻辑内建自测试、测试压缩、存储器自测试与自修复、系统测试和SoC测试、逻辑诊断与良率分析等基础测试技术，第10章扩展介绍在汽车电子领域发展的测试技术，第11章对数字电路测试的技术趋势进行展望。 |
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| 并列题名： | Digital integrated circuit testing eng |
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| 题名主题： | 数字集成电路 测试技术 |
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| 中图分类： | TN431.207 |
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| 个人名称等同： | 李华伟 编著 |
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| 个人名称等同： | 郑武东 编著 |
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| 个人名称等同： | 温晓青 编著 |
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| 记录来源： | CN 浙江省新华书店集团公司 20240620 |
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