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高管团队风险偏好对技术创新失败企业再创新影响机理研究
| ISBN/价格： | 978-7-5487-5537-1:CNY42.00 |
|---|---|
| 作品语种： | chi |
| 出版国别： | CN 430000 |
| 题名责任者项： | 高管团队风险偏好对技术创新失败企业再创新影响机理研究/.张洋著 |
| 出版发行项： | 长沙:,中南大学出版社:,2024.05 |
| 载体形态项： | 233页:;+21cm |
| 提要文摘： | 本书从个人和企业两个层面选取15个指标，构建高管团队风险偏好综合测度指标体系，建构了高管团队风险偏好综合测度模型，分析了高管团队风险偏好对企业技术创新失败再创新行为的影响效应，探讨了高管团队风险偏好对企业技术创新失败再创新绩效的影响效应，揭示了失败再创新行为在高管团队风险偏好与失败再创新绩效间的中介效应。根据本文研究结论，针对技术创新失败企业分别从企业和政府两个层面提出对策和建议。 |
| 题名主题： | 风险管理 影响 企业创新 研究 |
| 中图分类： | F273.1 |
| 个人名称等同： | 张洋 著 |
| 记录来源： | CN LCTBU 20241008 |