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X射线粉末衍射技术:测量与分析基础
| ISBN/价格： | 978-7-122-45720-2:CNY58.00 |
|---|---|
| 作品语种： | chi |
| 出版国别： | CN 110000 |
| 题名责任者项： | X射线粉末衍射技术/.王春建编著 |
| 出版发行项： | 北京:,化学工业出版社:,2024.08 |
| 载体形态项： | 184页:;+图:;+24cm |
| 提要文摘： | 本书内容主要分为五部分：X射线粉末衍射技术的发展历程和功能应用；X射线衍射仪器、光路配置、样品制备和测量过程；物相分析的基本原理、分析过程、注意事项、结果评价和部分实例；X射线衍射仪器的维护保养和辐射安全；X射线衍射技术的学习方法论。 |
| 并列题名： | X-ray powder diffraction technology eng |
| 题名主题： | x射线摄影测量 粉末衍射法 |
| 题名主题： | X射线衍射分析 粉末衍射法 |
| 中图分类： | O434.1 |
| 个人名称等同： | 王春建 编著 |
| 记录来源： | CN LCTBU 20250325 |