ISBN/价格: | 978-7-5024-9972-3:CNY80.00 |
作品语种: | chi eng |
出版国别: | CN 110000 |
题名责任者项: | 晶体学、粉末X射线衍射与透射电子显微学基础/.(新)董志力著/.潘昆明译 |
出版发行项: | 北京:,冶金工业出版社:,2024.06 |
载体形态项: | 15,220页:;+图:;+24cm |
提要文摘: | 本书共3部分,第1部分为晶体学简介,包括晶体与布拉维点阵的周期性,晶体的对称性、点群和空间群,倒易点阵及晶体结构表征举例;第2部分为材料的X射线衍射,包括X射线衍射的几何原理、X射线的衍射强度、实验方法与粉末X射线衍射仪、粉末X射线图谱的Rietveld精修;第3部分为材料透射电子显微学,包括电子和X射线的原子散射因子、透射电子显微镜中的电子衍射、衍射衬度和相位衬度。 |
并列题名: | Fundamentals of crystallography, powder X-ray diffraction, and transmission electron microscopy for materials scientists eng |
题名主题: | X射线晶体学 透射电子显微术 |
中图分类: | O72 |
个人名称等同: | 董志力 (新加坡) 著 |
个人名称次要: | 潘昆明 译 |
记录来源: | CN LCTBU 20250325 |