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纳米器件空间辐射效应
| ISBN/价格： | 978-7-03-078610-4:CNY198.00 |
|---|---|
| 作品语种： | chi |
| 出版国别： | CN 110000 |
| 题名责任者项： | 纳米器件空间辐射效应/.陈伟[等]著 |
| 出版发行项： | 北京:,科学出版社:,2024.06 |
| 载体形态项： | 280页:;+图:;+24cm |
| 丛编项： | 辐射环境模拟与效应丛书 |
| 提要文摘： | 本书介绍纳米器件空间辐射效应基本概念和研究现状、纳米器件所用材料的辐射损伤微观表征、纳米器件空间辐射效应新机理及可靠性、辐射损伤在纳米电路中的传播机制和加固方法、空间辐射效应重离子模拟试验技术等内容。 |
| 题名主题： | 纳米材料 电子器件 辐射效应 |
| 中图分类： | TN103 |
| 中图分类： | TL7 |
| 个人名称等同： | 陈伟 著 |
| 记录来源： | CN LCTBU 20250325 |