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专利视角下的半导体量检测关键技术
| ISBN/价格： | 978-7-5130-9496-2:CNY99.00 |
|---|---|
| 作品语种： | chi |
| 出版国别： | CN 110000 |
| 题名责任者项： | 专利视角下的半导体量检测关键技术/.国家知识产权局专利局专利审查协作江苏中心组织编写 |
| 出版发行项： | 北京:,知识产权出版社:,2024.09 |
| 载体形态项： | 218页:;+图:;+26cm |
| 一般附注： | 本书内容主要基于2023年度国家知识产权局学术委员会专利分析普及推广项目“面向先进制程的半导体量检测关键技术专利分析研究” |
| 提要文摘： | 本书创新性地开展“双线联动”和“双维定位”特色分析，重点研究了半导体产业关键核心技术的专利布局脉络和重点申请人布局情况，研究内容紧扣当下产业急需和未来发展趋势，不仅可以为现有科研工作提供有力的支撑，而且为未来的科研工作提供了有效的科研情报信息。 |
| 题名主题： | 半导体技术 专利 分析方法 |
| 中图分类： | G306 |
| 个人名称等同： | 孙跃飞 主编 |
| 记录来源： | CN 江苏新华 20241010 |