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《数字集成电路测试及可测性设计》

数字集成电路测试及可测性设计

ISBN/价格:978-7-122-46553-5:CNY79.00
作品语种:chi
出版国别:CN 110000
题名责任者项:数字集成电路测试及可测性设计/.张晓旭,张永锋,山丹编著
出版发行项:北京:,化学工业出版社:,2024.11
载体形态项:190页:;+彩图:;+26cm
丛编项:“集成电路设计与集成系统”丛书
提要文摘:本书从数字集成电路测试与可测性设计的基本概念出发,系统介绍了数字集成电路测试的概念、原理及方法。主要内容包括:数字集成电路测试基础、测试向量生成、可测性设计与扫描测试、边界扫描测试、内建自测试、存储器测试,以及可测性设计案例及分析,本书将理论与实践相融合,深入浅出地进行理论讲解,并辅以实例解析,帮助读者从入门级别的理解到信手拈来的精通,实现从理论知识到工程应用的有效过渡。
并列题名:Digital integrated circuit testing and testability design eng
题名主题:数字集成电路 测试技术
中图分类:TN431.2
个人名称等同:张晓旭 编著
个人名称等同:张永锋 编著
个人名称等同:山丹 编著
记录来源:CN LCTBU 20250417
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