ISBN/价格: | 978-7-122-46553-5:CNY79.00 |
作品语种: | chi |
出版国别: | CN 110000 |
题名责任者项: | 数字集成电路测试及可测性设计/.张晓旭,张永锋,山丹编著 |
出版发行项: | 北京:,化学工业出版社:,2024.11 |
载体形态项: | 190页:;+彩图:;+26cm |
丛编项: | “集成电路设计与集成系统”丛书 |
提要文摘: | 本书从数字集成电路测试与可测性设计的基本概念出发,系统介绍了数字集成电路测试的概念、原理及方法。主要内容包括:数字集成电路测试基础、测试向量生成、可测性设计与扫描测试、边界扫描测试、内建自测试、存储器测试,以及可测性设计案例及分析,本书将理论与实践相融合,深入浅出地进行理论讲解,并辅以实例解析,帮助读者从入门级别的理解到信手拈来的精通,实现从理论知识到工程应用的有效过渡。 |
并列题名: | Digital integrated circuit testing and testability design eng |
题名主题: | 数字集成电路 测试技术 |
中图分类: | TN431.2 |
个人名称等同: | 张晓旭 编著 |
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个人名称等同: | 张永锋 编著 |
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个人名称等同: | 山丹 编著 |
记录来源: | CN LCTBU 20250417 |