| ISBN/价格： | 978-7-03-082133-1:CNY88.00 |
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| 作品语种： | chi eng |
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| 出版国别： | CN 110000 |
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| 题名责任者项： | 硅后验证与调试/.(美)普拉巴特·米什拉, (美)法里玛·法拉曼迪著/.魏东, 孙健译 |
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| 出版发行项： | 北京:,科学出版社:,2025.07 |
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| 载体形态项： | 10,329页:;+图:;+26cm |
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| 丛编项： | 数字IC设计工程师丛书 |
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| 相关题名附注： | 版权页英文题名:Post-silicon validation and debug |
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| 提要文摘： | 本书阐述硅后验证和SoC调试中所面临的关键挑战、前沿技术与最新研究进展。全书共19章,第1章概述SoC设计方法学,并强调硅后验证和调试所面临的挑战;第2-6章描述设计调试架构的有效技术,包括片上设备和信号选择;第7-10章介绍生成测试和断言的有效技术;第11-15章提供自动化方法,用于定位、检测和修复硅后错误;第16-17章描述两个案例研究(NoC和IBMPOWER8处理器);第18章讨论设计调试与安全漏洞之间的内在冲突;第19章展望硅后验证与调试的未来发展趋势和潜在突破方向。 |
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| 并列题名： | Post-silicon validation and debug eng |
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| 题名主题： | 集成电路 芯片 设计 验证 |
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| 题名主题： | 集成电路 芯片 调整试验 |
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| 中图分类： | TN430.2 |
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| 中图分类： | TN430.7 |
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| 个人名称等同： | 米什拉 普拉巴特 (美) 著 |
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| 个人名称等同： | 法拉曼迪 法里玛 (美) 著 |
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| 个人名称次要： | 魏东 译 |
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| 个人名称次要： | 孙健 译 |
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| 记录来源： | CN LCTBU 20251012 |
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