| ISBN/价格: | 978-7-122-45882-7:CNY139.00 |
|---|---|
| 作品语种: | chi eng |
| 出版国别: | CN 110000 |
| 题名责任者项: | 先进电子封装技术/.杜经宁,陈智,陈宏明著/.王小京[等]译 |
| 出版发行项: | 北京:,化学工业出版社:,2024.10 |
| 载体形态项: | 224页:;+图,照片:;+24cm |
| 一般附注: | 芯科技 |
| 提要文摘: | 本书第1部分概述了电子封装技术,其中包括了最重要的封装技术基础,如引线键合、载带自动键合、倒装芯片焊点键合、微凸块键合和Cu-Cu直接键合。第2部分介绍电子封装的电路设计,重点是关于低功耗设备和高智能集成的设计,如2.5D/3D集成。第3部分介绍电子封装的可靠性,涵盖电迁移、热迁移、应力迁移和失效分析等。最后还探讨了人工智能(AI)在封装可靠性领域的应用。 |
| 并列题名: | Electronic packaging science and technology eng |
| 题名主题: | 电子技术 封装工艺 |
| 中图分类: | TN05 |
| 个人名称等同: | 杜经宁 著 |
| 个人名称等同: | 陈智 著 |
| 个人名称等同: | 陈宏明 著 |
| 个人名称次要: | 王小京 译 |
| 记录来源: | CN LCTBU 20251012 |