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微电子器件静电放电效应与防护
| ISBN/价格： | 978-7-5767-2362-5:CNY93.00 |
|---|---|
| 作品语种： | chi |
| 出版国别： | CN 230000 |
| 题名责任者项： | 微电子器件静电放电效应与防护/.杨洁[等]编著 |
| 出版发行项： | 哈尔滨:,哈尔滨工业大学出版社:,2025.07 |
| 载体形态项： | 218页:;+图:;+26cm |
| 提要文摘： | 本书详细地介绍了微电子器件静电放电效应规律、失效机理及防护技术，主要内容紧紧围绕微电子器件静电问题包括了静电放电敏感度评价方法、静电放电明显性失效分析、静电放电潜在性失效分析和静电防护技术等几个方面，反映了本领域的最新研究成果。 |
| 题名主题： | 微电子技术 电子器件 静电 放电 |
| 题名主题： | 微电子技术 电子器件 静电防护 |
| 中图分类： | TN4 |
| 个人名称等同： | 杨洁 编著 |
| 记录来源： | CN LCTBU 20260330 |