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扫描电镜与显微分析:从技术原理到案例
| ISBN/价格： | 978-7-5623-8081-8:CNY95.00 |
|---|---|
| 作品语种： | chi |
| 出版国别： | CN 440000 |
| 题名责任者项： | 扫描电镜与显微分析/.高尚[等]著 |
| 出版发行项： | 广州:,华南理工大学出版社:,2025.12 |
| 载体形态项： | 18,369页:;+彩图:;+26cm |
| 提要文摘： | 本书系统阐述了扫描电子显微镜(SEM)与显微分析(EDS和EBSD)的原理、技术及实践。全书共17章，前12章重点介绍SEM的基本原理、硬件构成、电子光学参数、电子与固体的相互作用、信号探测和成像技术、操作技巧和样品制备等内容；后4章涵盖EDS能谱分析和EBSD电子背散射衍射；最后第17章专题与案例，深入浅出呈现场发射SEM的技术精髓。 |
| 题名主题： | 扫描电子显微镜 |
| 中图分类： | TN16 |
| 个人名称等同： | 高尚 著 |
| 记录来源： | CN LCTBU 20260514 |