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全部 纸本图书 期刊
  • 互连线单粒子串扰效应的建模与分析图书

    —刘保军著

    索书号:TN911.4/00008

    标准编码:978-7-121-49010-1

    出版信息:电子工业出版社  2024.10  北京

  • 纳米CMOS器件及电路的辐射效应图书

    —刘保军,刘小强,刘忠永著

    索书号:TN303/00063

    标准编码:978-7-121-40841-0

    出版信息:电子工业出版社  2021.04  北京

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