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数字集成电路测试优化测试压缩、测试功耗优化、测试调度
—李晓维等著
索书号：TN431.207/00001
标准编码：978-7-03-027894-4
出版信息：科学出版社 2010.06 北京
主题词： 数字集成电路数字集成电路测试技术
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数字集成电路设计验证量化评估、激励生成、形式化验证
—李晓维等著
索书号：TN431.2/00088
标准编码：978-7-03-027609-4
出版信息：科学出版社 2010.05 北京
主题词： 数字集成电路数字集成电路电路设计
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多核处理器设计优化低功耗、高可靠、易测试
—李晓维等著
索书号：TP332/00239
标准编码：978-7-03-067147-9
出版信息：科学出版社 2021.11 北京
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数字集成电路容错设计容缺陷故障、容参数偏差、容软错误
—李晓维...[等]著
索书号：TN431.2/00092
标准编码：978-7-03-030576-3
出版信息：科学出版社 2011.4 北京
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