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全部 纸本图书 期刊
  • 纳米级系统芯片单粒子效应研究图书

    —贺朝会等著

    索书号:TN430/00001

    标准编码:978-7-03-067328-2

    出版信息:科学出版社  2021.05  北京

  • 多尺度模拟方法在半导体材料位移损伤研究中的应用图书

    —贺朝会[等]著

    索书号:TN304/00044

    标准编码:978-7-03-076469-0

    出版信息:科学出版社  2023.09  北京

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